SAE J67 Shovel Dipper, Clam Bucket, and Dragline Bucket Rating

作者:标准资料网 时间:2024-05-22 06:59:11   浏览:8087   来源:标准资料网
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Product Code:SAE J67
Title:Shovel Dipper, Clam Bucket, and Dragline Bucket Rating
Issuing Committee:Cranes And Lifting Devices Committee
Scope:This SAE Standard applies to all machines with shovel, clam, or dragline attachment.The purpose of this document is to provide a uniform method for determining the SAE rated capacity and SAE struck capacity for shovel dippers and clam buckets, and the SAE rated capacity for dragline buckets.
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【英文标准名称】:StandardSpecificationforPolyethylene(PE)ThermoplasticHigh-PressureIrrigationPipelineSystems
【原文标准名称】:聚乙烯(PE)热塑性高压灌溉管道系统规范
【标准号】:ASTMF771-1999(2005)
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:1999
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F17.61
【标准类型】:(Specification)
【标准水平】:()
【中文主题词】:热塑性聚合物;灌溉工程;凸版印刷;聚乙烯;塑料制品;管道装置;建筑
【英文主题词】:high-pressure;irrigation;pipelinesystem;polyethylene;thermoplastic
【摘要】:1.1Thisspecificationcoverspolyethylene(PE)thermoplasticpipelinesusedtoconvey,atratedpressuresof80to200psi,waterthatistobeusedforirrigationpurposes.Thisspecificationincludescriteriaforclassifyingthepipematerials,asystemofnomenclatureforplasticpipe,requirementsforpipe,testmethods,joints,fittings,certification,andmarking.1.2Thevaluesstatedininch-poundunitsaretoberegardedasthestandard.1.3Thefollowingsafetyhazardscaveatpertainsonlytothetestmethodportion,Section7,ofthisspecification:Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:G33
【国际标准分类号】:
【页数】:9P.;A4
【正文语种】:


基本信息
标准名称:硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
英文名称:Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-ray fluorescence spectroscopy
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-10-30
实施日期:2010-06-01
首发日期:2009-10-30
作废日期:
主管部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
提出单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
起草单位:有研半导体材料股份有限公司、万向硅峰电子有限公司
起草人:孙燕、李俊峰、楼春兰、卢立延、张静、翟富义
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-06-01
页数:16页
计划单号:20070862-T-469
适用范围

本标准规定了硅片表面金属沾污的全反射X 光荧光光谱测试方法,本方法使用单色X 光源全反射X 光荧光光谱的方法定量测定硅单晶抛光衬底表面层的元素面密度。
本标准适用于N 型和P型硅单晶抛光片、外延片等镜面抛光的硅片,尤其适用于清洗后硅片自然氧化层,或经化学方法生长的氧化层中沾污元素的面密度测定。

前言

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所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料